| کد اصلی | کد فرعی | محتوا |
| F2 | 40 | غیر عادی بودن سنسور ATC |
| 64 | غیر عادی بودن منبع جوهر | |
|
70
|
کارتریج نامناسب (خای مقصد، خطای دوره دوام) | |
| خطای شناسایی | ||
| خطای مدل | ||
| خطای نوع | ||
| خطای مقصد | ||
| غیر عادی بودن داده | ||
| خطای متفرقه | ||
| 74 | خطای ارتباط چیپ CRUM |
جزئیات کد های رفع اشکال
| کد اصلی | کد فرعی | جزئیات اشکال | |
| F2 | 40 | محتوا | غیر عادی بودن سنسور ATC |
| جزئیات | غیر هادی بودن ارزش سنسور ATC | ||
| دلیل | نقص در اتصال رابط
نقص در نصب کارتریج جوهر از کار افتادن سنسور |
||
| بررسی و رفع | رابط را دوباره وصل کنید.
قسمت ظهور را دوباره نصب کنید. قسمت ظهور را یک نمونه نو تعویض کنید. |
||
| 64 | محتوا | غیر عادی بودن منبع جوهر | |
| جزئیات | زمانی که منبع جوهر به کمتر از 50% برسد انتهای دوره دوام آن تشخیص داده می شود.
و یا زمانی که منبع جوهر بیشتر ا ز300% باشد |
||
| دلیل | غیر عادی بودن سنسور ATC
غیر هادی بودن منبع جوهر |
||
| بررسی و رفع | کارتریج جوهر را تعویض کنید
قسمت ظهور را تعویض کنید |
||
| 70 | محتوا | کارتریج نا مناسب (خطای مقصد، خطای دوره دوام)
خطای شناسایی خطای مدل خطای نوع خطای مقصد غیر عادی بودن داده خطای متفرقه |
|
| جزئیات | مقصد دستگاه با مقصد CRUM تفاوت دارد
کد علامت تجاری CRUM متفاوت است کد سازنده CRUM متفاوت است کد مدل برنامه بوت با کد مدل CRUM مطابقت ندارد اگر نوع CRUM با چرخش محصول / مبدل/ اصلی یکسان نباشد |
||
| دلیل | نقص در چیپ CRUM
کارتریج جوهر نامناسب |
||
| بررسی و رفع | کارتریج جوهر را تعویض کنید | ||
| 74 | محتوا | خطای ارتباط چیپ CRUM | |
| جزئیات | خطایی در ارتباط بین MCU و چیپ CRUM رخ داده است.
خطا در شناسایی CRUM |
||
| دلیل | غیر عادی بودن چیپ CRUM
قطع ارتباط واحدد ظهور غیر عادی بودن MCU PWB |
||
| بررسی و رفع | کارتریج جوهر را تعویض کنید
نصب قسمت ظهور را بررسی کنید SIM 16 را اجرا کنید MCU PWB را تعویض کنید |
تلفن های مشاوره، پشتیبانی و فروش : 88593028
